Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий Научной библиотеки (23)Каталог книг и продолжающихся изданий Б-ки по хим. аспектам охраны окружающей среды (22)Каталог книг Библиотеки спектральной информации (13)Каталог иностранных журналов Научной библиотеки (1)Каталог отечественной периодики Б-ки по хим. аспектам охраны окружающей среды (2)Каталог иностранных журналов Б-ки по хим. аспектам охраны окружающей среды (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду издания
Поисковый запрос: (<.>K=ADVANCED$<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


    Schafler, E.
    Characterization of nanostructured materials by X-ray line profile analysis / E. Schafler, M. Zehetbauer // Rev.Adv.Mater.Sci. - 2005. - Vol. 10, № 1. - p. 28-33. - Bibliogr.: 29 ref. - + . - ISSN 1605-8127

Имеются экземпляры в отделах:
2.


    Jorther, J.
    Nanostructured advanced materials. Perspectives and directions / J. Jorther, C. N.R. Rao // Pure Appl. Chem. - 2002. - Vol. 74, № 9. - p. 1491-1506. - Bibliogr.: 85 ref. - Папка 1/14 +

Имеются экземпляры в отделах:
 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)