Шифр БСИ: МИB17 SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY: BASIC CONCEPTS, INSTRUMENTAL ASPECTS, APPLICATIONS AND TRENDS [Text] : научное издание / BENNINGHOVEN A., RUDENAUER F.G., WERNER H.W. - NEW YORK A. O. : WILEY, 1987. - 1227P p. - (CHEMICAL ANALYSIS; VOL. 86). - Б. ц. Рубрики: М TM5 Экземпляры: БСИ (1) |
Шифр БСИ: МИB18 HANDBOOK OF STATIC SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY (SIMS) [Text] : научное издание / BRIGGS D., BROWN A., VICKERMAN J.C. - CHICHESTER A. O. : WILEY, 1989. - 156P p. - Б. ц. Приведены спектры. Рубрики: М TM5 P I Экземпляры: БСИ (1) |
Шифр БСИ: МИS9 SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY (SIMS 4): PROC. OF THE FOURTH INTERNATIONAL CONFERENCE, OSAKA, JAPAN, NOV. 13-19, 1983 [Text] : научное издание. - BERLIN A. O. : SPRINGER-VERL., 1984. - 503P p. - (SPRINGER SERIES IN CHEMICAL PHYSICS; VOL. 36). - A. BENNINGHOVEN A. O., ED. - Б. ц. Рубрики: М TM5 T05 Экземпляры: БСИ (1) |
Шифр БСИ: МИS19 SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY (SIMS 6): PROC. OF THE 6TH INTERNATIONAL CONFERENCE, VERSAILLES, FRANCE, 13-18 SEPT., 1987 [Text] : научное издание. - CHICHESTER A. O. : WILEY, 1988. - 1078 p. - ISBN 0-471-91832-6 : 99.20 р. Рубрики: М TM5 Экземпляры: БСИ (1) |