Schafler, E.     Characterization of nanostructured materials by X-ray line profile analysis / E. Schafler, M. Zehetbauer // Rev.Adv.Mater.Sci. - 2005. - Vol. 10, № 1. - p. 28-33. - Bibliogr.: 29 ref. - + . - ISSN 1605-8127 Имеются экземпляры в отделах: