Шифр БСИ: МИB17         SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY: BASIC CONCEPTS, INSTRUMENTAL ASPECTS, APPLICATIONS AND TRENDS [Text] : научное издание / BENNINGHOVEN A., RUDENAUER F.G., WERNER H.W. - NEW YORK A. O. : WILEY, 1987. - 1227P p. - (CHEMICAL ANALYSIS; VOL. 86). - Б. ц. Рубрики: М    TM5 Экземпляры: БСИ (1)